《表2 铁矿石各组分检出限结果表》

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《X射线荧光光谱分析法在检测铁矿石组分中的应用》

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式中：m为1μg/g含量的计数率；Ib为背景下计数率；t为峰值和背景的中总测量时间。从中可以看出，无论是m还是Ib都和铁矿石样品的基体情况有关，如果铁矿石样品的基体存在差异，则个组分检出限也各不相同。此外，也会受到X射线荧光光谱谱线相互重叠干扰等因素的共同影响。如果在采用X射线荧光光谱分析法检测铁矿石组分中没有充分考虑这些因素，就会导致组分检出限和实际组成之间存在较大差距。具体检测结果如表2所示。