《表2 CPC一点组与相应的IPC分类位置的映射关系》
CPC分类体系以ECLA为基础,将有机半导体领域的分类进行了重构,将“材料的选择”以及“专门适用于制造或处理器件或其部件的工艺”重新列为一点组,同时将“衬底”单独列为一点组进行分类。这是由于,在有机半导体器件领域,无论是材料、衬底的使用还是制备工艺均存在较大的共通性,某一类特定材料能够用于多种类别的器件中作为有源层,某一种特定制备工艺、特定衬底材料同样能够用于多种类别的器件。CPC和IPC之间的基本映射关系如表2所示。
图表编号 | XD00117127000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.20 |
作者 | 朱波、孙金岭 |
绘制单位 | 国家知识产权局专利局专利审查协作四川中心、国家知识产权局专利局专利审查协作四川中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |