《表5 器件连接性、电源电流参数连续测试结果》

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《高压大电流MOSFET驱动器失效分析》

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采用本方法测试样片，连续测试20次，结果稳定，器件不再烧坏了。测试试验证明器件损坏确实是加电状态下输入脚电压变换时间大于要求的时间造成的。表5是连续20次测试结果中的其中一次的测试结果。