《低水平放射性测量 1972》求取 ⇩

目录1

一、绪言1

1.1本报告的范围1

1.2外来计数2

1.3计数统计学方面的一些考虑4

1.4分析程序8

1.5低水平放射性的标准源和参考源11

二、样品的处理13

2.1引言13

2.2样品处理方法16

2.3样品和试剂的污染22

三、γ和X射线发射体的分析27

3.1引言27

3.2本底的成分及其减小措施29

3.3闪烁计数器41

3.4半导体探测器53

3.5正比计数器56

3.6专门技巧58

3.7γ射线能谱的分析61

4.1引言64

四、β粒子发射体的分析64

4.2气体放电计数器65

4.3塑料闪烁计数器75

4.4液体闪烁计数器77

4.5契伦柯夫计数器85

4.6半导体探测器87

4.7特殊放射性核素的分析方法88

五、α粒子发射体的分析96

5.1引言96

5.2本底96

5.4α粒子探测方法的分类97

5.3灵敏度97

5.5测量固体源中的α粒子总发射率98

5.6气态α粒子发射体的测量102

5.7α粒子的能谱测定104

5.8核径迹技术107

六、标准源和参考源108

6.1引言108

6.2某些专门的低水平标准源109

6.3标记化合物112

6.4最少放射性的源材料113

参考文献115