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目录1

原序1

译者序1

绪论1

0.01　电磁波-水波的类似2

0.02　无限空间中的电磁波7

0.03　有限空间中的电磁波10

0.04　微波测量有关的基本量12

第1章　频率和波长的测量25

1.01　频率和波长之间的关系25

1.02　频率和波长测量中的一般考虑26

1.03　用开缝线段测量波长28

1.04　用L-C调谐电路频率计测量频率36

1.05　用谐振腔频率计测量频率39

1.06　用外差式频率计测量频率49

1.07　用频率标准测量频率55

1.08　谐振腔频率计的调整和校准67

第2章　驻波比的测量78

2.01　传输线上驻波的实例78

2.02　一般的开缝线段技术80

2.03　电压驻波比最小值位置的确定88

2.04　高电压驻波比的测量90

2.05　一些误差的根源92

2.06　开缝线段的精密校准94

2.07　电压驻波比的精密测量（开缝线段法）97

2.08　电压驻波比的精密测量（谐振腔法）100

2.09　电缆至电缆的电压驻波比105

2.10　电缆至硬线的电压驻波比105

3.01　定义119

第3章　衰减的测量119

3.02　测量衰减可用的一些方法120

3.03　测辐射热计-伏特表法的设备要求122

3.04　用测辐射热计-伏特表法测量衰减129

3.05　射频替代法测量衰减141

3.06　用中频替代法测量衰减158

3.07　用音频替代法测量衰减164

第4章　功率的测量168

4.01　微波功率和功率测量的性质168

4.02　低功率测量中的一般考虑174

4.03　低功率测量的基本电桥电路方法184

4.04　用于低功率测量的改进电桥电路187

4.05　低功率测量的一般步骤201

4.06　低功率技术推广至测量中、高功率电平204

4.07　用量热器技术直接测量中和高功率电平211

4.08　高功率测量的专用设备216

4.09　可用的商品功率测量设备218

4.10　器件的功率容量的测量（烧毁测试）220

4.11　在脉冲功率条件下使用测辐射热计的特殊考虑223

第5章　Q值的测量230

5.01　Q值的定义230

5.02　谐振电路的型式232

5.03　基本测量技术233

5.04　测量时的注意事项238

5.05　半功率点（带宽）法测量Q值239

5.06　开缝线段法测量Q值251

5.07　Q值的衰减时间测量法257

5.08　Q值测量的拐点法259

第6章　阻抗的测量和其他等值表示法261

6.01　两端（终端）结构的表示法262

6.02　测量方法——两端结构263

6.03　四端网络的表示法270

6.04　各种表示法的效用277

6.05　三点法279

6.06　阻抗测量的半精密方法285

6.07　半精密方法——耗散（有耗）的网络295

6.08　测量的精密方法以及有关的表示法312

6.09　多端网络332

附录　用三个任意的输入输出测量来确定四端结构的等值电路参量339

第7章　击穿功率和击穿电压的测量341

7.01　影响击穿的因素341

7.02　测量方法342

7.03　击穿的检测345

7.05　极限，误差和精确度346

7.04　电离情况对击穿功率的影响346

7.06　在60赫的击穿测试350

第8章　传播常数的测量352

8.01　绪论352

8.02　由衰减测量确定衰减常数355

8.03　由电压驻波比的测量确定衰减常数357

8.04　由驻波图案导出衰减常数360

8.05　用可变短路线测量衰减常数（在开缝线段和待测传输线之间存在不连续性）363

8.06　用有耗短路线测量衰减常数（应用于低衰减值的测量）367

8.07　相位常数的测量——开缝线段法371

8.08　相位常数的测量——可变短路法372

8.09　两种不同的导波波长的精密比较373

第9章　频谱分析377

9.01　频谱分析和雷达工作的关系377

9.02　射频脉冲中的频率分布378

9.03　典型的频谱分析器381

9.04　频谱测量389

9.05　低频频谱分析器396

9.06　谐波和全景频谱分析器398

9.07　回波谐振腔401

第10章　介电常数的测量404

10.01　复数的介电常数405

10.02　介电常数的有关量406

10.03　波导中的介质试样视为四端结构407

10.04　介质测量技术对非均匀、非各向同性材料的应用410

10.05　波导或同轴线中进行试验的介质试样的制备411

10.06　含有解超越方程的介电常数两点测量法411

10.07　含有两个电抗终端器的介电常数测量418

10.08　高损耗材料介电常数的测量422

10.09　介电常数不依赖于试样安放位置的测量425

10.10　复数介电常数不依赖于试样长度的测量427

10.11　无耗介电常数不依赖于试样安放位置的测量428

10.12　无耗介电常数不依赖于试样长度的测量430

10.13　由“距离不变量”表示法推导介电常数431

附录Ⅰ 介质试样和波导之间空隙的修正434

附录Ⅱ 测量设备中的耗散对测得的数据的修正435

附录Ⅲ　复数超越方程的近似解443

附录Ⅳ　平均法444

第11章　射频泄漏的测量447

11.01　绪论447

11.02　屏蔽室屏蔽效率的测量447

11.03　电缆的泄漏参量的测量452

第12章　混合接头466

12.01　混合接头的某些例子466

12.02　待测量的定义469

12.03　输入电压驻波比的测量471

12.04　隔离的测量473

12.05　耦合系数的测量479

12.06　电压驻波比的测量——不平衡电桥法482

12.07　功率比较——用混合接头486

12.08　TBX-1BR阻抗电桥488

12.09　803A型甚高频阻抗电桥491

12.10　IM-96/U驻波指示器492

12.11　1602-A型特高频导纳电桥494

第13章　定向耦合器特性的测量497

13.01　定向耦合器的元件497

13.02　双定向耦合器498

13.03　待测量的定义498

13.04　主线电压驻波比的测量499

13.05　辅线电压驻波比的测量503

13.06　耦合度的测量505

13.07　主线介入损失的测量507

13.08　方向性的测量509

13.09　方向性结果的一般意义535

13.10　各种测量方向性方法的比较539

第14章　噪声的发生540

14.01　噪声的一般分类540

14.02　噪声的类型和噪声的发生541

14.03　噪声发生器552

14.04　噪声指数测量567

14.05　噪声测量仪器570

第15章　半导体二极管特性的测量579

15.01　变频损耗的测量579

15.02　噪声温度、噪声指数、噪声比的测量595

15.03　Y因数的测量600

15.04　仿真半导体二极管的结构602

15.05　半导体二极管灵敏度的测量604

15.06　射频阻抗的测量609

15.07　中频阻抗的测量612

15.08　平衡半导体二极管618

15.09　使用和贮藏半导体二极管的注意事项；错误的测试621

15.10　半导体二极管的机械和电结实性622

15.11　半导体二极管和发射机的关系622

15.12　半导体二极管烧毁的原因624

15.13　半导体二极管烧毁的理论625

15.14　半导体二极管烧毁测试627

第16章　接收机特性的测量635

16.01　噪声指数636

16.02　用各种发生器测量噪声指数637

16.03　用不同的检波器测量噪声指数642

16.04　单级噪声指数的测量648

16.05　射频响应曲线的测量649

16.06　射频增益或传输损耗；镜频和中频抑制653

16.07　射频增益的测量——高阻抗变频器653

16.08　射频增益的测量——低阻抗变频器656

16.09　作射频测量的一般注意事项659

16.10　统调的测量661

16.11　加热漂移的测量661

16.12　重复频率漂移的测量662

16.13　自动频率控制调谐系数的测量662

16.14　本地振荡器辐射的测量663

16.15　变频增益的测量664

16.16　振荡器注入的测量665

16.17　中频响应曲线的测量667

16.18　中频增益的测量669

16.19　对于脉冲调制的中频响应671

16.20　中频脉冲响应的测量672

16.21　自动增益控制特性的测量（中频）674

16.22　栅地-阴地级联放大器中和的测量675

16.23　检波器效率和线性的测量675

16.24　等值加载的测量677

16.25　鉴频器响应曲线的测量678

16.26　自动增益控制特性（第二检波器）的测量679

16.27　自动频率控制特性的测量684

16.28　视频响应曲线的测量687

16.29　视频增益的测量689

16.31　直流恢复电路特性690

16.30　视频脉冲响应的测量690

16.32　超再生式接收机测量692

16.33　半导体二极管-视频接收机测量694

第17章　调速管特性的测量696

17.01　反射式调速管的工作696

17.02　在谐振腔间隙中的场引起的电子注的速度调制697

17.03　在反射极区域的聚束697

17.04　振荡的模式698

17.05　谐振腔对波导的耦合699

17.06　反射式调速管模式的测量700

17.07　效率的测量705

17.08　频率牵引的测量705

第18章　磁控管特性的测量709

18.01　磁控管效率709

18.02　磁控管效率的测量709

18.03　磁控管的稳定性715

18.04　磁控管熄火数的测量717

18.05　磁控管的频率牵引724

18.06　频率牵引的测量725

第19章　双工管特性的测量732

19.01　双工管的功用732

19.02　双工管的一般性质733

19.03　泄漏能量735

19.04　收发管和前置收发管中总泄漏功率的测量736

19.05　尖峰能量的测量740

19.06　平顶功率的计算744

19.07　直接耦合功率和衰减744

19.08　电弧泄漏功率747

19.09　谐波泄漏747

19.10　电弧的损耗748

19.11　收发管和前置收发管恢复时间的测量751

19.12　反收发管恢复时间的测量754

第20章　天线测量757

20.01　天线特性的定义757

20.02　设备要求758

20.03　辐射图案的测量760

20.04　输入阻抗的测量767

20.05　偏振的测量768

20.06　增益的测量770

附录773

A．史密斯图的应用773

B．雷基图的应用781

C．传输线图的应用784

D．阻抗匹配技术及其限制812

索引827