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第1章数字电子技术基础1

1.1数制和编码1

1.1.1 进位计数制1

1.1.2 码制4

1.2逻辑代数8

1.2.1 逻辑代数中的3种基本逻辑运算8

1.2.2 逻辑函数及其表示方法11

1.2.3 逻辑函数的最小项表达式14

1.2.4 逻辑函数不同表达形式的内在联系15

1.2.5 逻辑代数的公式和运算规则15

1.2.6 逻辑函数的公式化简法20

1.2.7 逻辑函数的卡诺图化简法21

1.3门电路26

1.3.1 基本门电路26

1.3.2 复合门电路28

1.3.3 其他门电路30

1.4触发器32

1.4.1 概述32

1.4.2 不同逻辑功能的触发器32

1.4.3 触发器的电路结构和工作特点36

本章小结43

思考与练习43

实验和实训47

第2章数字电路的物理器件58

2.1半导体器件58

2.1.1 二级管的开关特性58

2.1.2 双极型三级管的3种工作状态60

2.1.3 MOS管的开关特性62

2.2集成门电路63

2.2.1 TTL门电路和CMOS门电路63

2.2.2 74TTL系列集成门电路70

2.2.3 4000CMOS系列集成门电路73

2.2.4 74HC CMOS系列集成门电路74

2.3集成触发器75

2.3.1 TTL触发器和CMOS触发器75

2.3.2 各类集成触发器76

2.4各类集成电路的使用注意事项76

2.4.1 有关主要参数的使用77

2.4.2 驱动与负载82

2.4.3 使用注意事项85

2.5数字电路中物理器件的总体分类86

2.5.1 规模、材料分类86

2.5.2 数字通用标准集成电路系列产品类别87

2.5.3 数字电路现代设计的集成电路类别87

2.5.4 数字专用集成电路类别88

2.5.5 其他器件类别89

2.6数字物理器件的查找方法91

2.6.1 器件的命名与说明书的使用92

2.6.2 D.A.T.A.BOOK的使用92

2.6.3 查找电子器件的其他途径95

2.7数字物理器件的使用96

2.7.1 器件的可靠性96

2.7.2 器件的选择98

2.7.3 器件的非在线检测98

本章小结99

思考与练习100

实验与实训102

第3章数字电路设计初步和故障分析109

3.1概述109

3.1.1 数字系统与数字电路109

3.1.2 数字电路的特点109

3.1.3 数字电路的分类109

3.2数字电路的设计方法110

3.2.1 明确电路的总体方案110

3.2.2 分割总体方案成若干独立的子功能部件111

3.2.3 设计实现各子功能部件112

3.2.4 将功能部件组装数字电路113

3.3组合逻辑电路设计113

3.3.1 组合逻辑电路的一般设计方法113

3.3.2 组合逻辑电路设计举例113

3.4时序逻辑电路设计122

3.4.1 时序逻辑电路的一般设计方法122

3.4.2 同步时序逻辑电路设计举例125

3.5数字电路的物理设计136

3.5.1 什么是数字电路的物理设计136

3.5.2 物理设计应考虑的问题137

3.6数字电路故障的诊断与排除138

3.6.1 数字电路故障诊断前的准备138

3.6.2 数字电路故障的分类138

3.6.3 常见的逻辑故障139

3.6.4 故障的检测与定位141

3.6.5 测试数字电路的方法142

3.7数字电路线路设计举例142

3.7.1 设计抢15电子玩具142

3.7.2 设计带有校时功能的数字闹钟145

本章小结151

思考与练习152

实验与实训153

第4章数字电路读图156

4.1数字电路读图的要求、方法和步骤156

4.1.1 读图的基本要求156

4.1.2 读图的一般方法158

4.1.3 读图的具体步骤159

4.2典型逻辑部件和单元电路的读图165

4.2.1 编码器166

4.2.2 译码器170

4.2.3 算术逻辑电路176

42.4 多路选择器和多路分配器184

4.2.5 计数器186

4.2.6 寄存器193

4.2.7 节拍脉冲发生器197

4.2.8 数/模、模/数转换电路197

4.3数字电路综合读图207

4.3.1 综合性数字电路读图的内容和步骤207

4.3.2 直流数字电压表的读图207

本章小结213

思考与练习214

实验与实训221

第5章大规模集成电路及其应用225

5.1只读存储器ROM225

5.1.1 ROM的结构和工作原理225

5.1.2 可编程ROM(PROM)和可改写ROM(EPROM)226

5.1.3 EPROM集成芯片简介227

5.2随机存取存储器RAM228

5.2.1 RAM的结构和工作原理229

5.2.2 RAM的存储单元229

5.2.3 6264型RAM简介230

5.可编程逻辑器件230

5.3.1 PLD的基本结构和分类231

5.3.2 PAL与GAL的原理及使用233

5.3.3 GAL的原理与特点238

5.4高密度在系统可编程逻辑器件240

5.4.1 PLSI/ispLSI 1016的结构与原理240

5.4.2 pLSI/ispLSI 1016的主要性能指标246

5.4.3 PLD的开发与在系统编程技术246

5.4.4 在系统可编程通用数字开关247

本章小结249

思考与练习249

实验和实训249

第6章脉冲与数字电路的软件仿真-Electronies Workbench的应用265

6.1概述265

6.1.1 功能与特点265

6.1.2 运行环境要求265

6.2基本操作方法266

6.2.1 工作界面构成266

6.2.2 实验电路生成方法267

6.3脉冲电路的仿真271

6.3.1 仪表的使用271

6.3.2 分析功能及其设置275

6.3.3 脉冲电路仿真范例276

6.4数字逻辑电路的仿真279

6.4.1 仪表的使用279

6.4.2 数字逻辑电路仿真范例282

6.4.3 子电路的生成与使用284

实验与实训286

附录:集成电路的功能与型号对照表288

参考文献291

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