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半导体器件失效分析中的若干问题姚建心1

MOS器件的辐照效应及其加固许康7

半导体器件早期接触失效机理及高温应力筛选徐兴才12

脱键分析唐俊华18

海缆用大功率晶体管的可靠性分析杨家铿21

一种反电子流方向的铝膜电迁移失效模式王占奎26

微带器件—铁氧体隔离器的失效机理与对策陈文斗28

集成与非功率门表面铝产生的微缺陷胡绪洲 秘能34

晶体管cb结反向脉冲耐量分析与预测周绍文39

微等离子体发光与低击穿初探汤崇瑜 黄杭生 张安康46

在钴60辐照下CMOS电路失效机理的定性分析田云52

用探能级瞬态谱（DLTS）作器件失效机理分析的尝试张安康 孙勤生 汤崇瑜57

塑封大功率三极管热疲劳失效分析余致清 朱树德59

硅平面型功率器件管芯的失效分析赵秀平63

几种常用失效分布下的失效机理吴兴蕙刘维一66

功率晶体管大电流密度下hFE的温度特性吴一清73

硅小功率塑封晶体管质量浅析李正玲 章海良80

大功率晶体管芯片粘结失效分析郑廷珪王晓华86

CMOS倒相器（4007）的高温运行试验许康88

老化筛选功能初探于龙潜91

EPROM的失效分析与筛选试验方法须国宗95

信号灯泡的加速老炼及色灯信号机可靠性问题的探讨孙正明101

航空陀螺电机的加速寿命试验与可靠性研究北京航空仪表厂 北京航空学院余度研究组108

CRT加速寿命试验方法吴福源114

老化筛选条件的研究郑鹏洲 张斌119

确定电子设备最佳老炼时间的新方法周延昆 卓礼章123

塑封IC（仿P-24电视机电路）的高压水汽试验结果及分析韩卓人 齐春秋129

高频电容耦合法析测P—N结漏电流曹泽谆 王为林132

电子设备的可靠性增长试验姚书炼137

晶体管中子辐射筛选梁伟修 周绍文143

用可代逻辑式计算网络系统的可靠度陆培恩149

关于FTA的NP问题梅启智 薛大知 张继荣156

一种新的步进应力加速寿命试验数理统计分析法刘鸿雁161

多个威布尔分布形状参数的检验费鹤良 徐锦龙167

步进应力加速寿命试验数据处理方法王玲玲173

关于步进应力加速寿命试验的参数估计（指数分布）茆诗松 张小琼179

系统MTBF的后样分布及小样本最优抽样试验龙永锡 赵宗贵185

广义艾林模型及其在可靠性寿命试验中的应用孙天蕙 李劲松192

非相干故障树分析法廖炯生 郝效敏198

间断使用系统的可靠性分析及其在铁路信号系统中的应用鲁秀 叶航203

铝电解电容器工作电解液最佳配方的选择——非直接计算的产品稳定性的三次设计朱振214

用冠醚络合硅表面的碱金属杂质胡绪洲221

半导体器件和集成电路粗检漏化学试剂分析滕怀流226

实现r≠0的继电器寿命分布的初步讨论袁先弟231

运用可靠性技术指导老产品改进张礼文236

技术参数的稳定性分析薄兰邵245

半导体器件的漏孔及其漏率的统计分布规律刘明远 刘振茂252

电视机元器件现场失效率统计分析程序王本安260

国产星载及弹载行波管的研制任裕安 赵瑞清 李宝林265