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前言1

第一章　晶体光学基础1

第一节　光的波动性1

目录1

第二节　光的折射及全反射2

一、光的折射及折射率2

二、光的全反射及全反射临界角3

第三节 自然光和偏振光4

第四节　光波在均质体和非均质体中的传播特点4

一、均质体的光率体6

二、一轴晶光率体6

第五节　光率体6

三、二轴晶光率体9

第六节　光性方位13

一、中级晶族晶体的光性方位13

二、低级晶族晶体的光性方位14

第七节　色散15

一、均质体的光率体色散15

二、一轴晶的光率体色散15

三、二轴晶的光率体色散16

第二章　偏光显微镜19

第一节　偏光显微镜的构造19

三、调节焦距（准焦）22

二、调节照明（对光）22

一、装卸镜头22

第二节　偏光显微镜的调节与校正22

四、校正中心23

五、视域直径的测定25

六、目镜十字丝的检查25

七、偏光镜的校正25

第三节　岩石薄片磨制法简介26

第三章　单偏光镜下的晶体光学性质28

第一节　单偏光镜的装置及特点28

第二节　矿物的形态及解理28

一、矿物的形态28

二、解理30

三、解理夹角的测定31

第三节 薄片中矿物的颜色与多色性、吸收性32

一、矿物的颜色32

二、多色性与吸收性33

第四节　薄片中矿物的边缘、贝克线、糙面及突起35

一、矿物的边缘与贝克线35

二、矿物的糙面36

三、矿物的突起36

四、闪突起38

第四章　正交偏光镜间的晶体光学性质40

第一节　正交偏光镜的装置及光学特点40

第二节　正交偏光镜间矿片的消光现象及消光位40

第三节　正交偏光镜间矿片的干涉现象41

一、干涉色及其成因44

第四节　干涉色及干涉色色谱表44

二、干涉色级序及各级序的特征45

三、干涉色色谱表47

四、异常干涉色47

五、平行偏光镜间的干涉色48

第五节　补色法则及补色器49

一、补色法则49

二、几种常用的补色器50

三、几种其它的补色器53

第六节　正交偏光镜间主要光学性质的观察与测定54

一、非均质体矿片上光率体椭圆半径方向和名称的测定54

二、干涉色级序的观察和测定55

三、双折率的测定56

四、消光类型与消光角的测定57

五、晶体延性符号的测定60

六、双晶的观察61

第五章　锥光镜下的晶体光学性质64

第一节　锥光镜的装置及光学特点64

第二节　一轴晶干涉图65

一、垂直光轴切片的干涉图65

二、斜交光轴切片的干涉图70

三、平行光轴切片的干涉图71

第三节　二轴晶干涉图74

一、垂直锐角等分线（Bxa）切片的干涉图74

二、垂直一个光轴切片的干涉图84

三、斜交光轴切片的干涉图86

四、垂直钝角等分线（Bxo）切片的干涉图87

五、平行光轴面切片的干涉图89

第四节　锥光镜下色散现象的观察89

一、斜方晶系矿物的色散89

二、单斜晶系矿物的色散92

三、三斜晶系矿物的色散94

第六章　透明矿物薄片的系统鉴定97

一、透明矿物薄片系统鉴定的内容97

二、定向切片的选择及其特征97

三、透明矿物薄片系统鉴定的程序98

四、半圆柱坐标鉴定系统简介99

一、浸油的配制102

第一节　浸油的配制及测定浸油折射率的方法102

第七章　油浸法简介102

二、浸油折射率的测定103

第二节　油浸法测定折射率的方法105

一、碎屑油浸薄片的制备方法105

二、碎屑油浸薄片中，比较矿物碎屑与浸油折射率相对大小的方法106

三、油浸法测定折射率的具体步骤107

附录111

岩石薄片中矿物颗粒大小及含量的测定111

一、岩石薄片中矿物颗粒大小的测定111

二、岩石薄片中矿物百分含量的测定112

彩色干涉色色谱表（插页）121

彩色照片图版（插页）121

主要参考文献121