《表4 固体玻片B不同梯度值的平均荧光强度》

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《荧光薄膜材料荧光特性对荧光显微镜分析测量效果的影响》

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利用2.2节中的方法，制备出矩阵固体玻片B，如图5所示。由于固体玻片B为微米级的矩阵方格结构，因而采取2.5中的方法用荧光显微镜测量其荧光强度，测量出固体玻片B每个梯度的荧光强度，对每个梯度矩阵点重复测量3次，再取3次测量值的平均值，作为该梯度值处的平均荧光强度AFI，数据如表4所示。根据测量数据做出梯度值与平均荧光强度的关系图，如图6所示。由图6可知，其线性相关系数大于0.99，表明固体玻片B在不同荧光强度的荧光矩阵上，荧光强度和荧光物质浓度具有良好的线性关系。