《表1 不同Spiro-OMeTAD旋涂量下器件的性能》
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《基于Spiro-OMeTAD电子阻挡层的量子点发光二极管电荷平衡改善》
为了研究Spiro-OMeTAD旋涂量对器件性能的影响,在相同的条件下制备了Spiro-OMeTAD旋涂量不同的QLED器件。分别采用20,40,60,80,100μL这5种旋涂量来制备Spiro-OMeTAD薄膜厚度不同的QLED器件,得到的各QLED器件的性能如表1所示。其中,外部量子效率、电流效率与亮度值均指器件在驱动电压为0~10V时的最大值,电流密度为器件在驱动电压为7V时的相应值。
图表编号 | XD0062558100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.10 |
作者 | 张文静、张芹、杨亮、江莹、常春、金肖、李凤、黄彦、李清华 |
绘制单位 | 南昌航空大学测试与光电工程学院、南昌航空大学测试与光电工程学院、厦门理工学院材料科学与工程学院福建省功能材料及应用重点实验室、南昌航空大学测试与光电工程学院、南昌航空大学测试与光电工程学院、南昌航空大学测试与光电工程学院、南昌航空大学测试与光电工程学院、南昌航空大学测试与光电工程学院、南昌航空大学测试与光电工程学院 |
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