《表2 4种绝缘缺陷模型下局放的N、Qavg及Qsec Tab.2 N, Qavg, and Qsecof PD caused by four kinds of defects》
在各实验电压下,检测到4种绝缘缺陷产生PD的N、Qavg及Qsec如表2所示。
图表编号 | XD0053686900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.20 |
作者 | 朱宁、雷志城、徐肖庆、唐炬、曾福平 |
绘制单位 | 云南电网有限责任公司昆明供电局、武汉大学电气与自动化学院、云南电网有限责任公司昆明供电局、武汉大学电气与自动化学院、武汉大学电气与自动化学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |