《表1 某型机电产品失效时间Tab.1 Failure time of an electromechanical product》

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《基于核路径分类与估计模型的贮存寿命预测》

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试验样本总数n=5，试验过程中记录机电产品的失效数据和性能退化数据；所施加的温度应力分别为80℃，66℃，53℃，40℃，贮存温度为23℃。各温度应力下的失效个数分别为2，1，1，1。失效时间如表1所示。