《表1 钨涂层成分化学分析结果》
在金相显微镜下测量钨涂层厚度(见图3),测量时随机选取5个位置测量涂层厚度。测量结果分别为:194.370μm、197.145μm、185.775μm、196.188μm、184.786μm,平均值为191.653μm。最大值与平均值的偏差率2.86%,最小值与平均值的偏差率为3.58%,说明钨涂层厚度偏差较小,可满足用户对真空电子器件使用要求。
图表编号 | XD0031016500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.04.10 |
作者 | 张丹华、秦思贵、刘国辉 |
绘制单位 | 安泰天龙钨钼科技有限公司、安泰天龙钨钼科技有限公司、安泰天龙钨钼科技有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |