《表1 根据配方组分对C和N元素各分峰的官能团归属》
XPS是目前应用最广的固体表界面分析技术之一[9-14],国内前期开展了XPS用于固体推进剂/衬层界面的探索研究[15-16]。经过研究得到了一些新认识[17]:易挥发的硝酸酯在建立高真空过程中逸出,XPS检测不到;AP和HMX两种填料因为表面包覆,只能检测裸露部分,检出率低于理论值1~2个数量级。这些认识为XPS应用于含NEPE推进剂样品的表界面分析扫除了障碍。在上述认识基础上,通过分峰,根据配方组分对各谱峰进行官能团归属(见表1),得到了C和N元素各化学态的原子分数在界面的分布曲线及分析结果见图4,界面存在明显的键合剂BA富集。XPS图谱上却没有发现HMX聚集,是因为HMX被BA所包覆。
图表编号 | XD0021746300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.04.01 |
作者 | 庞爱民、池旭辉、尹华丽 |
绘制单位 | 中国航天科技集团公司四院四十二所、中国航天科技集团公司四院四十二所、中国航天科技集团公司四院四十二所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |