《表1 X射线荧光光谱法测定结果》
注:1)单位为%,下同。
使用X射线荧光光谱仪,采用自带半定量分析程序,对样品成分进行测试,对获得的54个参数数据,按照标准HG/T 4520—2013和HG/T 4519—2013的参数和16个较高参数数值排列,结果如表1所示。
图表编号 | XD00211866200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.15 |
作者 | 田宗平、秦毅、侯治华、王子杰、张丽艳、彭君、吕文广 |
绘制单位 | 湖南省地质测试研究院、湖南省地质测试研究院、湖南省地质测试研究院、湖南省地质测试研究院、湖南省地质测试研究院、湖南省地质测试研究院、吉林市弗兰达科技股份有限公司 |
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