《表1 各类超期失效元器件》

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《元器件长期储存可靠性规律研究》

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元器件超期复验项目参考GJB/Z 123-1999等标准一般包含外观质量检查、电性能测试、密封性检查、声学扫描显微镜检查（塑封器件适用）、引出端可焊性检查、引出端强度试验、破坏性物理分析（DPA）等。表1展示了超期复验任务中，在各个试验项目中不同元器件的失效情况；图2展示了元器件在不同试验项目中出现失效的占比。