《表1 功率测试:基于ARM的紫外辐射光功率测量系统设计与实现》
至于数据采集信号,ADC采集图9中的某峰值电压VA,根据公式VD=65 536·(VA/VRF),MCU计算出的2路ADC采样值VD分别是1 243.268 92mV,1 242.768 92mV,与标准电压相比,并参照AD芯片数据手册,实际测试的误差均在AD的误差范围内,满足设计要求。MCU根据P=U2·(U1/R)计算得到功率。部分数据结果如表1所示。
图表编号 | XD0016872900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.07.01 |
作者 | 瑚琦、汪敏、夏志迁、雷航 |
绘制单位 | 上海理工大学光电信息与计算机工程学院、上海理工大学光电信息与计算机工程学院、上海理工大学光电信息与计算机工程学院、上海理工大学光电信息与计算机工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |