《表1 PileUp处理前后仿真与实验计数率对比》

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《基于Gate与Matlab的PET电子学仿真系统研究》

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更进一步地，我们从理论与实验对比的角度对图13（a）和（b）进行分析。在Gate仿真软件中以同样的方法调节放射性源与待测block之间的距离，同时将实验结果与仿真结果进行对比，如表1所列。其中，第一列为实验时待测block上的平均计数率（能窗位于435～650 ke V，单位是kcps，代表探测器每秒探测到事件的千次数），第二列为仿真实验有无PileUp处理操作对放射性事件（435～650 ke V）计数率的影响。实验计数率提升利用上述同样的方法在NeuWise样机中实现，其中实验计数均匀性为block中各晶体计数率的差异，无PileUp处理时，重心法计算得到的晶体空间分布图一般会出现聚焦的现象[如图13（a）所示]，PileUp处理之后会使每个晶体计数率更加均匀[如图13（b）所示]。由于Gate仿真系统直接输出了晶体的位置，PileUp事件的发生及后续处理操作不对其晶体位置产生影响，故本文不对仿真实验计数均匀性进行研究。