《表1 与已经提出的部分锁存器性能比较》

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《一种新型可容忍单节点翻转锁存器加固设计》

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从表1中可以看出传统锁存器由于没有任何加固处理，所以不能免疫任何SEU带来的软错误，只具有基本的锁存功能，并不能工作在辐射环境下。FERST（M.Fazeli，S.G.Miremadi，A.Ejlali，et al.，Low energy single event upset/single event transienttolerant latch for deep subMicron technologies，IET Comput.Digit.Tech.3(3）（2009）:289-303）锁存器和HIPER（Omana，M.；Rossi，D.；Metra，C.High-performance robust latches.IEEE Trans.Comput.2010，59，1455-1465）锁存器虽然可以阻断SNU发生对锁存器输出的影响，但是一旦内部节点发生错误必须等到下一个传输期（透明期）到来，各翻转节点才能重新存储正确的逻辑值（黄正峰，钱栋良，梁华国，等.65nm工艺下单粒子加固锁存器设计[J].计算机辅助设计与图形学学报，2016，28(8）:1393-1400）。而本文提出的SEUSRL锁存器和HLR(Nan，H.；Choi，K.High performance，low cost，and robust soft error tolerant latch designs for nanoscale CMOS technology.IEEE Trans.Circuits Syst.I Reg.Pap.2012，59，1445-1457）锁存器都可以在锁存期将发生翻转的单节点恢复至正常状态。而且与其他锁存器相比SEUSRL锁存器具有更小的功耗和延时，虽然面积上花费更多晶体管，但是正是晶体管的合理使用使得本锁存器还具有部分DNU容忍能力。