《表6 后表面出射比果：造钚率实验中γ射线自吸收修正研究》

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《造钚率实验中γ射线自吸收修正研究》

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实验测量模型与图1理论模拟模型相同，在高纯锗探头表面放置样品支架，支架上表面距探头表面9 cm，贫化铀片（或组合贫化铀片）置于支架上，243Amα源镀层朝下置于贫化铀片上表面。首先将243Amα源面朝下置于支架上进行测量，得到0厚度情况下探测器277.6 keVγ射线计数率，然后改变贫化铀片（或组合贫化铀片）厚度，测量不同厚度条件下277.6 keVγ射线计数率，进而得到不同厚度贫化铀片的γ射线穿透比（见表6）。将表6中的测量结果用式（2）进行指数拟合，拟合结果如图4所示，拟合相关系数为0.999，非常接近1，线性衰减系数为0.001 06，不确定度为1.38%。