《表4 传统指纹图谱与优化指纹图谱识别效果对比》
为比较两种指纹提取方法对缺陷类型识别的影响,分别计算了图8中传统的指纹图谱和图12中经GA-BP算法优化的指纹图谱的缺陷类型识别率。第1组待识别数据中包含了内半导电层破损、绝缘内部气隙缺陷和绝缘表面划伤缺陷分别为–24.0 kV、–22.5 kV和–25.0 kV时采集到的多组PD信号;第2组待识别数据包含了3种缺陷类型在表2所涵盖的所有试验条件下的PD信号。得到识别结果如表4所示。
图表编号 | XD0087362400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.30 |
作者 | 唐炬、宋文斌、潘成、杨军亭、雷志城、张明轩 |
绘制单位 | 武汉大学电气与自动化学院、武汉大学电气与自动化学院、武汉大学电气与自动化学院、国网甘肃省电力公司电力科学研究院、武汉大学电气与自动化学院、武汉大学电气与自动化学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |