《表3 IC交换触控测试结果》
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为了确认IC本体是否异常导致触控不良，我们邀请新思厂商进行IC交换验证，验证结果如表3所示，触控测试结果正常的样品和超出规格的样品进行IC交换验证。
| 图表编号 | XD0080533400 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.08.01 |
| 作者 | 朱磊、王忠俊、黄式强、李盼盼、胡伟、林汇哲 |
| 绘制单位 | 重庆京东方光电科技有限公司、重庆京东方光电科技有限公司、重庆京东方光电科技有限公司、重庆京东方光电科技有限公司、重庆京东方光电科技有限公司、重庆京东方光电科技有限公司 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
