《表1 高纯锗探测器主要结构参数》

《表1 高纯锗探测器主要结构参数》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
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《基于GEANT4探讨入射窗材料对HPGe探测器探测效率的影响》


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实验所用的仪器是CANBERRA公司生产的p型同轴HPGe探测器,相对探测效率65%,分辨率2.0 ke V,实验和模拟所用的探测器各参数值如表1所示。用GEANT4建立的探测器和体源模型如图1所示。建立好模型后,输入入射源的相关信息和探测器内所发生的相关物理过程,然后记录入射光子进入探测器中并发生各种相互作用后沉积的能量。在用GEANT4模拟时,沉积能量的计算是通过把每个源粒子事件在探测器中所发生作用的每一步能量沉积累加后得到的[7],最后将得到的沉积能量保存在特定的文件中以待分析。