《表1 样品的厚度与化学法测定钨矿石中钨含量的比较》

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《样品厚度对X-射线荧光分析结果的影响》


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采用本法对实验样按照国家标准矿石制样,确保样品的代表性均匀性。与表1的分析条件一致进行测量将所得的结果进行统计,见表3。