《表3 同一样品不同粒度下的分析结果对比表》

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《X射线荧光光谱法测定地质样品中的硫和氟》

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抽取同一定值样品HJ/Y170341，分别过125、105、97、85和74μm标准筛，筛下试样压片后测定，考察试样粒度对测定结果的影响，并与化学参考值（S、F分别为碳硫分析仪法、氟离子选择电极法的多次测量结果定值）比较（见表3）。结果显示，在该标线下测定，过85μm标准筛的样品中S、F元素的含量均与化学参考值基本相符。