《Table 1 Growth process parameters and as-growth crystal type at different P2O5 contents》
Figure 2 shows the XRPD patterns of the three as-grown crystals.Clearly,the crystals are Te8P4O26,Te3P2O11,and Te2P2O9.The XRPD patterns are in reasonable agreement with the standard data,and no impurity peaks appear.All the diffraction peaks of the as-grown crystals are sharp in the measured 2θrange,indicating that the three crystals are well-crystallized[14].The crystal types correspond to the six different types of raw materials see Table 1.
图表编号 | XD0032557000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.01 |
作者 | 董卫民、姚倩、张俊英、柳林涛、李静、王继扬、BOUGHTON Robert I. |
绘制单位 | 山东大学晶体材料国家重点实验室、山东大学晶体材料国家重点实验室、山东大学晶体材料国家重点实验室、山东大学晶体材料国家重点实验室、山东大学晶体材料国家重点实验室、山东大学晶体材料国家重点实验室、博林格林州立大学物理与天文系 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |