《表2.CCD与非晶硒探测器总体对比》
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《X射线头颅侧位CCD线阵探测器与非晶硒平板探测器的比较》
基于非晶硒探测器的对于温度要求较高特点,在日常维护中,须严格规定操作。应将拍摄机房的温度控制在探测器正常工作温度范围,同时还要防止室内过于潮湿。而CCD探测在维护方面就方便的多,温度范围要求<40?C,即使温度稍高或者稍低于正常工作范围,也可以通过校正对图像修正,不会造成设备的永久损坏。
图表编号 | XD00228704600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.15 |
作者 | 孙嘉伟、徐晓斌、王越 |
绘制单位 | 辽宁省医疗器械检验检测院、辽宁省医疗器械检验检测院、辽宁省医疗器械检验检测院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |