《表1 米粒图像评价指标:针对不均匀光照高反光注塑工件图像的缺陷定位和分割》
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《针对不均匀光照高反光注塑工件图像的缺陷定位和分割》
从表1~表3的结果可以看出,所提出的算法能够提供比原图更大的平均灰度以及更小的图像熵,这说明改进算法对于不均匀光照图像有很好的增强能力,包括注塑工件的图像。同时与用基本直方图均衡化方法处理的结果相比较,改进的算法也有着更好的表现。其平均灰度、图像熵以及峰值信噪比等性能均有所提高,其中图像熵平均减少36.3%,峰值信噪比平均增加50.5%。提出的方法能够有效得消除注塑工件图像中的光照不均匀问题,为接下来可能的处理步骤提供较大便利。
图表编号 | XD00202665400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.25 |
作者 | 杜娟、谭笑宇、黄涛 |
绘制单位 | 华南理工大学广东省高端芯片智能封测装备工程实验室、华南理工大学广东省高端芯片智能封测装备工程实验室、华南理工大学广东省高端芯片智能封测装备工程实验室 |
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