《表2 GGA和LDA-1/2方法计算Ga N, Al N和In N带隙值与其他理论计算值以及实验值的对比Tab.2Comparison of the band gaps by using GGA a
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《"不同构型(In,Al)GaN合金发光机理的第一性原理研究"》
图2是以Ga N和Al N为例,分别采用GGA和LDA-1/2所计算的的能带修正对比图。如图所示,两种合金的导带底和价带顶均位于布里渊区的г点处,说明Ga N和Al N都为直接带隙半导体材料,且光跃迁最可能出现在倒空间г点的位置,因此,合金光发射主要由来自VBM和导带底(CBM)态附近的电子空穴辐射复合产生。其中(a)、(c)图分别为Ga N、Al N修正前的带隙图,(b) 、(d)图分别为Ga N、Al N修正后的带隙图。由图可知采用LDA-1/2方法修正后的带隙值远大于GGA方法的计算值,与实验值吻合较好。具体计算数据在表2中列出。
图表编号 | XD0017626500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.04.01 |
作者 | 张玲玲、张敏、史俊杰、贺勇、安婷 |
绘制单位 | 内蒙古师范大学物理与电子信息学院、内蒙古师范大学物理与电子信息学院、北京大学物理学院人工微结构与介观物理国家重点实验室、内蒙古师范大学物理与电子信息学院、内蒙古师范大学物理与电子信息学院 |
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