《表1 部分器件结构以及工艺参数》
图1是单轴应变Si器件单粒子效应原理图。表1列出了器件结构以及工艺参数。表2给出了仿真单粒子效应重离子模型的参数,其中,let_f和wt_hi分别是线性能量传输值以及半径。方向(0,1)为单粒子垂直注入单轴应变Si器件。随着集成电路继续发展,集成电路的特征尺寸由深亚微米进入纳米级,为了更精确的研究纳米尺度的器件,本文利用Sentaurus TCAD软件进行器件仿真,同时添加了小尺寸模型,SRH和Auger复合,禁带变窄及迁移率模型等。
图表编号 | XD0017063600 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.08.15 |
作者 | 廖晨光、郝敏如 |
绘制单位 | 西安电子科技大学微电子学院、西安电子科技大学微电子学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |