《表3 D/A样品在静态和动态条件下的试验结果Tab.3 Test results of D/A samples under static and dynamic conditions》
本文研究了典型集成电路的动态闩锁效应检测方法,并对FPGA和D/A转换器进行了动态条件以及改变上电时间和上电顺序条件下的闩锁试验验证。试验结果表明,动态条件下发生的闩锁效应较明显。
图表编号 | XD0016785500 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.08.20 |
作者 | 黄东巍、蔡依林、任翔 |
绘制单位 | 中国电子技术标准化研究院、中国电子技术标准化研究院、中国电子技术标准化研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |