《表3 计算划片轨迹实验数据》
划片精度是设备最重要的验收指标,也是晶圆自动对准方案是否可靠的直接判断依据。因此本验证环节在生产线上进行,通过晶圆的自动上下片、自动对位、划片和裂片,获得最终的晶粒产品。在晶粒中进行抽测,测量晶粒对边的长度并计算差值,即为最终误差。10次数据如表3所示。
图表编号 | XD0014937000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.06.20 |
作者 | 张乾、张永昌、邓胜强、谭立杰 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |