《表9 Idc为不良数据时的量测数据和残差》
在接下来的仿真算例中,将研究所提出方法抗差性,即在量测中引入不良数据(粗差)时,状态估计结果的准确性。首先验证所提出方法对单个不良数据的抗差性。当在量测量Idc中引入不良数据时(真实值166.67 A,而不良数据为300 A),估计结果如表7~表9所示。从表7可以看出,当Idc由量测值166.67 A引入不良数据为300 A时,目标函数值收敛为133.351 1,迭代次数5次。表8中,LAV估计结果比较接近实际值,而WLS由于有不良数据的影响,导致Udc估计结果不准确。从表9中可以看出,通过判断残差的变化,可以发现Idc的残差结果变化最大,从而辨识出Idc的量测为不良数据。LAV方法的估计结果对不良数据不敏感,说明其具有一定的抗差性。
图表编号 | XD00148625100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.07.10 |
作者 | 宋绍剑、黄沛、林予彰、林小峰 |
绘制单位 | 广西大学电气工程学院、广西大学电气工程学院、Department of Electrical Engineering,University of Massachusetts、广西大学电气工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |