《表2 轴承外圈故障:基于改进CEEMDAN和TEO的轴承故障特征提取方法》
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《基于改进CEEMDAN和TEO的轴承故障特征提取方法》
为了观察所提方法在多种情况下对故障特征信号的提取效果,通过实测不同电机转速与故障类型下的实测,对多组实测数据进行验证。现选取各类故障典型结果展示如下。其中,外圈故障轴承实验结果如表2所示,内圈轴承实验结果如表3所示,轴承滚珠故障实验结果如表4所示。通过表格数据可以看出,各类型故障频率表征明显,从多组结果可明显发现故障倍频及其2倍频,且获得最优重构信号的迭代次数均未超过15次。实验结果证明了方法的有效性。
图表编号 | XD00143051700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.18 |
作者 | 陆彦希、曹乐 |
绘制单位 | 上海工程技术大学电子电气工程学院、上海工程技术大学电子电气工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |