《表1 辐射抗扰度参数：解析GB/T 36282-2018》

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《解析GB/T 36282-2018》

在20～2 000 MHz全频段内，采用电波暗室法和大电流注入（BCI）法的组合方法进行试验，EUT不应出现性能下降，功能状态要求至少应为B类（EUT在施加骚扰期间，能执行其预先设计的所有功能；其中，除存储功能之外，可以有一项或多项的功能指标超出规定的偏差。在停止施加骚扰之后，所有功能自动恢复到正常工作范围内）。在20～200 MHz的频段内，BCI法抗扰试验强度应不低于60 mA；在200～2 000 MHz频段内，电波暗室法抗扰试验强度应不低于30 V/m，辐射抗扰度参数如表1所示。