《表1 辐射抗扰度参数:解析GB/T 36282-2018》

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《解析GB/T 36282-2018》


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在20~2 000 MHz全频段内,采用电波暗室法和大电流注入(BCI)法的组合方法进行试验,EUT不应出现性能下降,功能状态要求至少应为B类(EUT在施加骚扰期间,能执行其预先设计的所有功能;其中,除存储功能之外,可以有一项或多项的功能指标超出规定的偏差。在停止施加骚扰之后,所有功能自动恢复到正常工作范围内)。在20~200 MHz的频段内,BCI法抗扰试验强度应不低于60 mA;在200~2 000 MHz频段内,电波暗室法抗扰试验强度应不低于30 V/m,辐射抗扰度参数如表1所示。