《表2 AEMs的IEC、σ、WU、SR、热稳定性和机械性能对照》

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《高性能氢化星型聚(苯乙烯-b-丁二烯-b-苯乙烯)嵌段共聚物阴离子交换膜的制备、结构与性能》

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AEMs的热稳定性通过TGA测试进行表征，结果如图6A所示。HSBS4303-OH和HSBS4402-OH在加热过程中均有3个阶段的质量损失，这与文献[58-60]中报道的相一致。其中，20～100℃时的质量损失（w100，表2）通常由膜中水分和残留溶剂蒸发造成的，并且在这个温度范围内其随着PS质量分数的增加而略有增加，这是因为PS含量的增加使得功能基团的数量也有所增加，故其所吸收的水分也随之增加。150～200℃时的质量损失率（w200，表2）最可能是由于季铵基团的分解引起的[43]。w200与功能基团的浓度（即IEC值）密切相关，因此，HSBS4303-OH和HSBS4402-OH的w200从12.7%增加到17.6%。400～480℃时的质量损失主要归因于聚合物主链的降解。