《表2 方法精密度：便携式X射线荧光光谱分析仪快速检测弹着痕迹》

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《便携式X射线荧光光谱分析仪快速检测弹着痕迹》

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在弹着痕迹样本中，仪器可以检测出Sn、Sb、Pb、Cu、Zn元素。选取其中含量值较高的Pb、Cu两种元素，作为分析方法精密度的对象。抽样选取射击距离为15 cm和1、5 m的三个样本在塑料模式（选取主范围滤波片）90 s检测时间下对每个样本的同一部位连续重复检测六次，计算Pb、Cu的平均值、标准偏差（STDEVA）和相对标准偏差（RSD）（见表2） 。在不同射击条件下，Pb、Cu元素的相对标准偏差值在1.1%～4.7%范围内，均小于5%，该方法测试精密度良好。