《表1 焊接接头的电化学数据参数》

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《新型异种钢接头组织和耐腐蚀性能研究》

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焊接接头各微区的极化曲线如图2（a）所示。由图2得到的各参数数值如表1所示。母材C（C-BM）的自腐蚀电位最正，为-599 mV，析氢电位最负；焊缝区次之；A侧热影响区（A-HAZ）的自腐蚀电位最负，为-665 mV，析氢电位最正。另外，由扫描Kelvin探针测试结果（图2(b）)可知，A侧母材区（A-BM）的伏打电位约在30 mV左右；A侧热影响区伏打电位明显负移，最负值约在熔合线的附近，大约在-70 mV左右，表明热影响区的电子逸出功下降，更容易失去电子。而从热影响区向焊缝区方向，伏打电位差逐步上升至90 mV左右稳定，表明焊缝区表面更为稳定，电子逸出难度增大，这跟焊缝区致密的下贝氏体组织有关，随后C侧热影响区（C-HAZ）的伏打电位开始下降，而到C母材区又出现上升趋势。最终结果，C母材区的伏打电位最正，热影响区的最负，尤其是A侧热影响区（近熔合线处），与焊缝区相差约160 mV。由焊接接头各区域自腐蚀电位和伏打电位值的规律性一致，可以判断出接头的两侧热影响区最容易被腐蚀，其次是母材A，然后是焊缝，母材C的耐蚀性最好。由析氢电位大小可知，母材A的析氢倾向明显大于焊缝；两侧热影响区最易发生析氢，尤其是A侧热影响区。