《表4 阻抗拟合结果:深冷处理时间对AZ31镁合金CMT接头耐蚀性的影响》
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《深冷处理时间对AZ31镁合金CMT接头耐蚀性的影响》
图4中阻抗谱按图5中等效电路模拟腐蚀过程,经ZSimpWin软件分析得出反映金属腐蚀难易的Rct和反映腐蚀产物膜结构的Rfilm,见表4。由表4数据可知,-140℃/4h处理的焊缝区Rct和Rfilm最大,其次为-140℃/8h和-140℃/2h,-140℃/6h与未处理的焊缝区电阻最小,与定性分析结果一致。综合SEM分析结果,深冷处理条件改善耐蚀性能排序为-140℃/4h>-140℃/8h>-140℃/2h>-140℃/6h>未处理。-140℃/4h处理后所得焊缝区的电荷转移电阻Rct和腐蚀产物膜电阻Rfilm最大,比未深冷时分别提高了51.5%和53.0%。
图表编号 | XD0084945400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.04.01 |
作者 | 陈金秋、吴志生、刘翠荣 |
绘制单位 | 太原科技大学材料科学与工程学院、太原科技大学材料科学与工程学院、太原科技大学材料科学与工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |