《表2 方法比对：1,10-二氮杂菲分光光度法测定金属硅中铁》
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用本法与国家标准方法GB/T 14819.4-2014（电感耦合等离子体原子发射光谱法）、GB/T14819.5-2014(X射线荧光光谱法）测定工业硅标准样品工业硅1#、工业硅4#。三种方法测得结果见表2，结果表明，本法平均测得结果0.438%、0.705%与电感耦合等离子体原子发射光谱法平均测得结果0.435%、0.703%，X射线荧光光谱法平均测得结果0.450%、0.711%，以及认定值0.438%、0.705%吻合较好。
| 图表编号 | XD008239100 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.12.15 |
| 作者 | 安中庆、范兴祥、阮淑呈、方海燕、赵德平、刘英波 |
| 绘制单位 | 昆明冶金研究院分析测试部、云南省选冶新技术重点实验室、共伴生有色金属资源加压湿法冶金技术国家重点实验室、昆明冶金高等专科学校、昆明冶金研究院分析测试部、云南省选冶新技术重点实验室、共伴生有色金属资源加压湿法冶金技术国家重点实验室、贵研铂业股份有限公司检测中心、昆明冶金研究院分析测试部、云南省选冶新技术重点实验室、共伴生有色金属资源加压湿法冶金技术国家重点实验室、昆明冶金研究院分析测试部、云南省选冶新技术重点实验室、共伴生有色金属资源加压湿法冶金技术国家重点实验室 |
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