《表5 校正曲线系数:X射线荧光光谱法测定钠冰晶石的主要化学成分》
用配制的标准样品,经过熔融处理后制成玻璃熔片,在X射线荧光光谱仪上测试强度,选择基本参数法(FP法)对基体进行校正,用仪器自带的软件对标准样品进行回归计算。表5为经过基体校正的工作曲线系数,从表中可以看出,各组分的均方根偏差(RMS)值较小,满足检测要求。
图表编号 | XD0077756400 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.08.15 |
作者 | 赵辉 |
绘制单位 | 奥钢联伯乐焊接(中国)有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |