《表6 内标法的检出下限与定量限分析》

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《X-射线衍射内标法定量滑石粉中的温石棉》

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*CK=σ×k×（m硅/m样）×100；CT=3 CK式中，k为内标法标准曲线斜率，m样为1#分析试样的质量（0.214 4 g) ，m硅为1#分析试样中的硅粉的质量（0.210 2 g)

对绘制标准曲线时制备的最小标准试样2#，用X-射线衍射仪重复测量10次，求出10次温石棉与硅的积分强度比值的标准偏差?，计算标准曲线的检出下限CK和定量下限CT。其中，其中CK与CT计算如表6所示。