《表1 样品参数：基于损耗统计理论的动态J-A磁滞模型》

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《基于损耗统计理论的动态J-A磁滞模型》

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为验证本文所提计算方法，使用实验室的BROCKHAUS-MPG200电工钢磁性测试系统测取了硅钢单片样品在不同频率下的饱和磁滞回线，样品参数见表1。用于测试系统的实验平台如图1所示，由主机、控制显示系统、电源与单片测量仪组成。测量系统通过控制与显示系统输入控制指令，并将指令传递到主机。主机将接收到的控制指令（波形种类、相角、幅值等）进行数据计算处理，转化成在样品测试系统端可施加的激励指令（励磁电流等）。单片测量仪完成样品分析后，由主机进行数据处理后输出。