《Tab.1 Resources used by test circuits》
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《对FPGA配置码点软错误敏感性的细粒度研究(英文)》
The test circuits for the experiment include three combinatorial and five sequential circuits picked out from the MCNC[20]and OpenCores[21]suites.In Tab.1(see page 78),we summarize the number of primary inputs(PI),primary outputs(PO),flip-flops(FF)and LUTs in each circuit.
图表编号 | XD0030788200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.01 |
作者 | 连彩江、罗毅、ADRIAN Evans、WEN Shijie、陈更生 |
绘制单位 | 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室、复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室、IROC Technologies、思科系统公司总部、复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |