《表2 抗辐照PROM测量系统分析数据》
国产256kbit的抗辐照PROM测量系统分析数据见表2。表中给出了A、B、C等3位评价人分别对10只样品进行动态功耗电流Iop测试的结果。最右侧一列给出了每人每次测量10只样品的均值,以及每人共测得30个数据的均值与极差,最终计算得到90个测试数据的总均值。平均极差由下式求得:
图表编号 | XD00228606800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | |
作者 | 丛山、庄仲、徐泽涛、常明超、张靓 |
绘制单位 | 中国航天宇航元器件工程中心、中国航天宇航元器件工程中心、中国航天宇航元器件工程中心、中国航天宇航元器件工程中心、中国航天宇航元器件工程中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |