《表1 过程风险分析和评价表》
通过对航天器用元器件生产制造过程中所涉及的主要过程进行分析可以发现,元器件固有失效风险主要发生在以下几个过程中:产品设计阶段的质量风险、关键原材料的质量风险、产品工艺验证与生产制造过程中的质量风险、外协外包工序的质量风险、产品检验试验过程中的质量风险、产品周转贮存过程中的风险。将上述过程中的风险作为PID建设过程中以问题导向和目标导向识别过程风险的主体,利用风险控制优先级AP表格的模型评价所识别的过程风险等级,通过为H和M等级的风险制定相应的风险控制措施,将过程风险控制在L等级,具体分析和评价方法见表1。
图表编号 | XD00228603400 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | |
作者 | 张斌、姬爽 |
绘制单位 | 中航富士达科技股份有限公司、中航富士达科技股份有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |