《表1 BFNTO薄膜晶粒尺寸与Ni掺杂浓度变化关系》
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《Ni掺杂对铋层状钙钛矿Bi_6Fe_2Ti_3O_(18)薄膜微结构及铁电性能的影响》
对于多铁薄膜,其晶粒尺寸和薄膜内应力对薄膜的铁电性能产生重要影响。基于薄膜XRD谱,通过Scherrer公式D=0.89λ/βcosθ计算了薄膜中的晶粒尺寸,其中:λ为X射线波长(λ=0.154 nm);β为衍射峰半高宽;θ为衍射角。计算结果如表1所示。从表1可以看出,Ni掺杂量x=0、x=0.5、x=1.0和x=1.5的薄膜的平均晶粒尺寸分别为18.2、18.5、18.4和18.2 nm,没有表现出明显的变化规律,表明Ni离子掺杂对薄膜晶粒尺寸的变化没有明显的影响。为了进一步确定Ni离子掺杂对薄膜晶格结构的影响,根据XRD谱中I(00 12),I(11 11)和I(202)衍射峰计算了薄膜的晶格常数和内应力,内应力的定义为ε=(a–a0)/a0×100%,其中:a为BFNTO薄膜a-轴晶格常数;a0取值为0.549 nm。
图表编号 | XD0022816600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.09.01 |
作者 | 戴玉强、高倩倩、刘振东 |
绘制单位 | 安阳工学院数理学院、安阳工学院数理学院、安阳工学院数理学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |