《表1 混合粉末的X射线Rietveld定量相分析结果》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《高活性铝粉活性评价方法研究进展》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

周玉华等[24]利用X射线Rietveld全谱拟合法对电爆炸法、等离子法、激光感应法三种方法制备的纳米铝粉进行最优条件下的XRD测试，确定物相及物相结构模型参数，经过Rietveld精修确定了不同方法制备出的纳米铝粉中有效铝的含量，并通过已知含量的混合粉末（89.77%Al和10.23%Al2O3）来验证精修结果的可靠性，数据结果见表1[24]，证实了该方法的可行性。该方法为铝含量的测定提供了一个新思路，具有其特有的优点，如不改变物质的状态，排除了化学测量法易引入新的影响因素的缺点；以整个衍射谱为研究对象，在获得活性铝含量的同时还可以对纳米铝粉中的微观应力进行定量分析，以及从晶体结构角度研究纳米铝粉的高能量机理。但该方法也有其不足之处，Rietvied法是用计算的理论谱图拟合实验获取的衍射谱，而准确的数据结果离不开一张高准确、高分辨率的实验衍射谱图，这就需要耗费大量的时间来优化实验条件，往往不同的样品还可能需要调节不同的步长与扫描时间，且计算机拟合分析无论从成本，还是对研究人员的要求上，都还不能实现快速测量的目的。