《表1 水库群特征水位值:基于“单片机+FPGA”的数字芯片自动测试系统设计》
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《基于“单片机+FPGA”的数字芯片自动测试系统设计》
本文设计的数字芯片测试系统实物如图9所示。为了确保该系统测试结果的可靠性,选取了8种74系列数字芯片进行实验测试,选取的芯片涵盖了14、16和20引脚的组合逻辑和时序逻辑电路芯片。测试结果如表1所示。实际测试结果表明,该系统可以准确地对14、16和20引脚的74系列数字芯片进行功能测试和型号识别,准确率100%,可靠性强。
图表编号 | XD00208782000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.12.20 |
作者 | 石英、陈心浩、何湘竹 |
绘制单位 | 中南民族大学实验教学与实验室管理中心、中南民族大学实验教学与实验室管理中心、中南民族大学电子信息工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |