《表3 节点功率值:基于Moldflow的显示器后壳缺陷优化设计》

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《基于Moldflow的显示器后壳缺陷优化设计》


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注:Ki为某个因素在第i水平的平均值。

对表2所得的实验数据采用极差(R)分析法进行分析计算,结果如表3所示。